磁性材料上的防护涂层厚度测量

对于平面金属基材上的涂层测厚，虽然可以使用基于涡流/磁感应原理的手持式膜厚仪，但是如果材料本体具有磁性，手持膜厚仪探测的磁感应线会受到基材磁性的干扰导致膜厚测量值出现严重偏差。因此磁材制造行业对于磁材产品上的防护涂层的厚度测量普遍选择破坏式的断面显微成像测量或者具有辐射风险的x射线衍射法，这两种方法都无法满足磁材生产中快速大量准确测量的要求，存在测量效率低下，测量成本高而且测量具备安全风险的问题。

针对这一特殊材料的检测难点，不受材料磁性影响的CoatPro膜厚仪可以完美解决这一问题。图中展示的是我司为磁材行业某龙头企业提供的，替代用户当前的显微断面膜厚分析的非接触非破坏的测量方式和测量结果。用户对磁材产品的防护涂层管控厚度在8-25微米之间。在使用CoatPro后，可以看到，不到1秒就可以轻松完成精度优于200纳米的准确可靠的涂层厚度分析。并且我司支持用户对于测点直径定制的要求，针对测量特征点小的要求匹配直径1毫米的小测点，满足用户对其不同规格的产品的不同测量位置进行快速在线非接触测量的全部要求。